TA.XTC質(zhì)構(gòu)儀測試餅干的硬度和脆裂性

首先將兩個(gè)支撐點(diǎn)調(diào)整到合適的位置，以便支撐樣品的長度，例如30mm。為了對比的目的，該位置應(yīng)該記錄下來。然后將其安裝到承重平臺上。將承重平臺安裝到主機(jī)上并調(diào)整，直到上刀具對準(zhǔn)中心位置，旋緊承重平臺。樣品從包裝袋中取出，選擇所需測試指標(biāo)（zui大正力和正面積），準(zhǔn)備進(jìn)行實(shí)驗(yàn)。

TA.XTC質(zhì)構(gòu)儀配有三點(diǎn)彎曲探頭(HDP/3PB)，用TA.XTC質(zhì)構(gòu)儀測試餅干的硬度和脆裂性的原理是一旦TA.XTC質(zhì)構(gòu)儀探頭的感應(yīng)力達(dá)到，曲線開始表達(dá)出樣品被探頭下壓過程的效果。曲線zui大壓力數(shù)值可以表達(dá)樣品的破裂強(qiáng)度。其他可表明的數(shù)字還有：破裂距離和斜率。破裂距離表明樣品的脆性，顯示樣品能抗多長距離后被破壞。斜率表明樣品的硬度，斜率越高，硬度越大。

之后是分析曲線zui大正峰值與正面積：

1種樣品，進(jìn)行20次重復(fù)的分析結(jié)果(+/-SD.)（不合適數(shù)據(jù)需剔除），其硬度的zui大正峰值是458.3 ± 52.6，其脆性的正面積是0.38 ± 0.05。

在用TA.XTC質(zhì)構(gòu)儀測試餅干的硬度和脆裂性時(shí)應(yīng)該注意的是：為了實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)可以對比，必須確保樣品的尺寸和支撐點(diǎn)的距離。樣品如果比較寬，要求的破裂力也比較大。

另外，儲存、包裝和處理樣品的條件的變化，都會影響實(shí)驗(yàn)結(jié)果。這些條件應(yīng)該是確定的保持連續(xù)的。